[发明专利]用于二次采样/圆形测距光学相干断层扫描成像的主动正交解调在审
| 申请号： | 201980064573.1 | 申请日： | 2019-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN112839568A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | B·J·瓦科克;N·利波克 | 申请（专利权）人： | 通用医疗公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01J3/00;G01J3/28;G01N21/00;G01N21/17;G01N21/47 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 任曼怡;黄嵩泉 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种方法，包括：使用电磁辐射源在一时间段内扫描样本，该时间段包括第一时间段和第二时间段，电磁辐射源的样本部分被引导到光学干涉系统的样本臂中的样本，而电磁辐射源的参考部分被引导到光学干涉系统的参考臂；使用相位调制器将包括第一相移和第二相移的相移施加到电磁辐射源的参考部分或样本部分中的至少一者，在第一时间段期间施加第一相移而在第二时间段期间施加第二相移，第二相移与第一相移相差90度；基于在第一时间段期间的第一反向散射电磁辐射与经受第一相移的参考部分或样本部分中的至少一者之间的第一干涉，来采集同相数据；基于第二时间段期间的第二反向散射电磁辐射与经受第二相移的参考部分或样本部分中的至少一者之间的第二干涉，来采集正交数据；以及基于同相数据和正交数据来确定复合干涉信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 二次 采样 圆形 测距 光学 相干 断层 扫描 成像 主动 正交 解调 | ||
【主权项】：
暂无信息
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