[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201980066078.4 | 申请日: | 2019-10-09 |
公开(公告)号: | CN112805829A | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 山口敦司;坂入宽之;大塚拓一 | 申请(专利权)人: | 罗姆股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/07 | 分类号: | H01L25/07;H01L25/00;H01L25/18;H02M1/34 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金成哲;郑毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体装置(A1)具备:第一端子(201A)和第二端子(201B);具有第一栅极电极(12A)、第一源极电极(13A)和第一漏极电极(14A)的第一开关元件(1A);具有第二栅极电极(12B)、第二源极电极(13B)和第二漏极电极(14B)的第二开关元件(1B)。在第一端子(201A)和第二端子(201B)之间串联连接有第一开关元件(1A)和第二开关元件(1B)。半导体装置(A1)具备在第一端子(201A)和第二端子(201B)之间与第一开关元件(1A)和第二开关元件(1B)并联连接的第一电容器(3A)。第一开关元件(1A)和第二开关元件(1B)在x方向上排列。第一电容器(3A)在z方向视角下与第一开关元件(1A)和第二开关元件(1B)的至少其一重叠。采用这种结构能够抑制浪涌电压。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
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