[发明专利]用于确定光学介质的折射率的方法和显微镜在审
| 申请号： | 201980068865.2 | 申请日： | 2019-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN112867918A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·韦斯;克里斯蒂安·舒曼;罗尼亚·卡佩尔曼 | 申请（专利权）人： | 莱卡微系统CMS有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 宋融冰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 介绍一种用于确定显微镜(10、78)中的光学介质的折射率的方法，该显微镜具有面向样本空间(14)的物镜(12)，其中，具有待确定的折射率的所述光学介质是两种光学介质(26、28)之一，这些光学介质在所述样本空间(14)中与盖玻片或载玻片(16)的两个相反的表面(64、68)邻接，由此形成两个部分反射的界面，这些界面相距所述物镜(12)以不同的间距布置。在该方法中，使得测量光束(34)透过所述物镜(12)在倾斜地入射情况下转向至所述盖玻片或载玻片(16)，产生两个在空间上彼此分开的反射光束(54a、54b)，其方式为，使得所述测量光束(34)分别部分地在两个所述界面上反射，使得两个所述反射光束(54a、54b)被所述物镜(12)接收，并且转向至对位置灵敏的探测器(60)，借助所述对位置灵敏的探测器(36)来检测两个所述反射光束(54a、54b)的强度，基于两个所述反射光束(54a、54b)的所检测的强度来计算所述光学介质的折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 光学 介质 折射率 方法 显微镜 | ||
【主权项】：
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