[发明专利]用于高质量氧化硅薄膜的高温原子层沉积的组合物在审

专利信息
申请号: 201980073496.6 申请日: 2019-10-03
公开(公告)号: CN112969816A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 王美良;雷新建;M·B·拉奥 申请(专利权)人: 弗萨姆材料美国有限责任公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/40;H01L21/02;H01L21/324
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 吴亦华;徐志明
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了以>600℃的温度形成氧化硅的原子层沉积(ALD)工艺。所用的硅前体具有下式:I.R1R2mSi(NR3R4)n,其中R1、R2和R3各自独立地选自直链或支链的C1至C10烷基和C6至C10芳基;R4选自氢、直链或支链的C1至C10烷基以及C6至C10芳基、C3至C10烷基甲硅烷基;其中R3和R4连接以形成环状环结构或R3和R4不连接形成环状环结构;m为0至2;n为1至3;并且m+n=3。
搜索关键词: 用于 质量 氧化 薄膜 高温 原子 沉积 组合
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于弗萨姆材料美国有限责任公司,未经弗萨姆材料美国有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980073496.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top