[发明专利]单晶X射线结构解析装置和方法、以及用于此的试样固定器组件在审
| 申请号： | 201980076995.0 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113167748A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线结构解析的单晶X射线结构解析装置、用于此的方法、试样固定器组件。具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器250中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的结构解析的结构解析部，将试样固定器(250)装备于能拆装的敷料器而提供，试样固定器(250)包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，敷料器具备：用于使试样吸藏在试样固定器(250)的细孔性络合物晶体的空间。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 方法 以及 用于 试样 固定器 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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