[发明专利]在图案化和未图案化的基板上的沉积膜的顺序沉积和高频等离子体处理在审

专利信息
申请号: 201980077353.2 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN113169022A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: V·V·瓦茨;H·俞;P·A·克劳斯;S·G·卡马斯;W·J·杜兰德;L·C·卡鲁塔拉格;A·B·玛里克;李昌陵;D·帕德希;M·J·萨利;T·C·楚;M·A·巴尔西努 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;C23C16/458
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;张鑫
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本文所公开的实施例包括形成高质量的氮化硅膜的方法。在实施例中,一种在基板上沉积膜的方法可包括:通过沉积工艺在第一处理空间中在基板的表面之上形成氮化硅膜;以及在第二处理空间中处理氮化硅膜,其中处理氮化硅膜包括:将膜暴露于由模块化的高频等离子体源引起的等离子体。在实施例中,等离子体的壳层电势小于100V,并且高频等离子体源的功率密度为约5W/cm2或更高、约10W/cm2或更高,或约20W/cm2或更高。
搜索关键词: 图案 基板上 沉积 顺序 高频 等离子体 处理
【主权项】:
暂无信息
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