[发明专利]复杂基质中分析物的定量质谱分析中基质效应校正的方法在审
| 申请号： | 201980083317.7 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN113196052A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | T·汉克迈耶;A·C·杜贝尔曼;A·C·哈姆斯;O·冈萨雷斯 | 申请（专利权）人： | 莱顿大学 |
| 主分类号： | G01N30/72 | 分类号： | G01N30/72;G01N30/86;G01N30/04;G01N30/84 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王丽军 |
| 地址： | 荷兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于通过分析系统定量样品中的一个或多个分析物的方法，所述分析系统包括分离单元(LC柱)、添加柱后溶液的装置(连接器)以及检测单元，所述检测单元包括耦合通过电离源的质谱仪，所述方法包括：(i)对样品中的分析物和柱后注入的内部标准(PCI‑IS)诱导基质效应；(ii)将最匹配分析物对基质效应的响应的一个或多个柱后注入的内部标准(PCI‑IS)与每个分析物匹配，以及·(iii)将分析物匹配的PCI‑IS标识以及可选地相关联的响应数据存储在库中；以及·(iv)将分析物匹配的PCI‑IS应用到其他样品中的分析物，以校正在电离期间分析物对基质效应的峰响应，以及可选地使用响应数据获得分析物的(绝对)定量。 | ||
| 搜索关键词： | 复杂 基质 分析 定量 谱分析 效应 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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