[发明专利]单晶X射线结构解析装置用试样保持架、试样保持架组件以及吸藏方法在审
申请号: | 201980088751.4 | 申请日: | 2019-11-21 |
公开(公告)号: | CN113302481A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 佐藤孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | G01N23/20025 | 分类号: | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张远 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种能够通过迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏来迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架、试样保持架组件以及吸藏方法。是在单晶X射线结构解析装置中使用的试样保持架,具备:基台部,安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪;试样保持部,形成于所述基台部,保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶;以及试样导入结构,形成于所述基台部,导入用于使所述细孔性络合物结晶吸藏的所述试样。 | ||
搜索关键词: | 射线 结构 解析 装置 试样 保持 组件 以及 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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