[发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置在审
| 申请号： | 201980088771.1 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113287006A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/207 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够可靠且容易地进行吸藏在晶体海绵的试样的取下、向装置的搭载作业的单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置。是在进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置安装对试样进行保持的试样保持架的试样保持架安装装置，具备试样保持架安装机构(600)，将装配于能够装卸的敷料器(300)而提供的所述试样保持架(250)在将所述试样保持架(250)从所述敷料器300取下的状态下安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪(12)，所述试样保持架(250)包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶，所述细孔性络合物结晶在所述试样保持架(250)安装于所述测角仪(12)的状态下，固定在所述试样保持架(250)的被来自所述X射线照射部的X射线照射的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 以及 试样 保持 安装 | ||
【主权项】：
暂无信息
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