[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201980088933.1 申请日: 2019-02-01
公开(公告)号: CN113330556A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 盐田裕基;本宫哲男;田尻邦彦;冈田纯;山田大海;门脇和丈 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/04;H01L23/08
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 金光华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 具备:内侧框架(7),围住半导体芯片(11)的外周;以及外侧框架(2),围住内侧框架(7)的外周,由将内侧框架(7)的外周围住的外壁(3)和缠绕于外壁(3)的外周的纤维状的加强构件(4)构成外侧框架(2),从而防止构成半导体装置的部件的碎片向半导体装置外部飞散,不仅实现系统整体的可靠性的提高,而且实现半导体装置的小型化。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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