[发明专利]分光测定装置及分光测定方法在审
| 申请号： | 201980089626.5 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN113396317A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 井口和也;增冈英树 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/36 | 分类号： | G01J3/36 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导，且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
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