[发明专利]使用测试信号经由过混合耦合器检测信号的相位的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201980089863.1 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN113366766B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: J·福雷;V·诺皮克;E·科赫维 申请(专利权)人: 意法半导体有限公司;国家科学研究中心;波尔多理工学院;波尔多大学
主分类号: H04B1/04 分类号: H04B1/04;H04B1/18
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 董莘
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种经由在功率合成器模式下工作的混合耦合器((CH2)检测模拟信号((SI3)的相位((PI)的方法,混合耦合器((CH2)包括旨在接收模拟信号((SI3)的第一输入((BE3)、旨在接收相对于模拟信号((SI3)相移90°的附加模拟信号((SI4)的第二输入((BE4)、传送输出信号((SS1)的第一输出((BS3)、以及第二输出((BS4),该方法包括在第二输出((BS4)处注入具有初始测试相位((PTI)的测试信号((ST1);从初始测试相位((PTI)到等于初始测试相位((PTI)增加了一次完整旋转的至少一部分的最终测试相位((PTF),迭代地生成测试信号((ST1)的当前测试相位((PTC),在每次迭代中,对输出信号((SS1)进行当前峰值测量((AC1);并且如果不存在分别大于当前峰值((AC1)的所存储的最大峰值((Amax)或小于当前峰值((AC1)的所存储的最小峰值((Amin),则将当前测试相位((PTC)和当前峰值((AC1)存储为最大峰值((Amax)或最小峰值((Amin),并使用所存储的测试相位((PTM)确定模拟信号((SI3)的相位((PI)。
搜索关键词: 使用 测试 信号 经由 混合 耦合器 检测 相位 方法 设备
【主权项】:
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