[发明专利]半导体X射线检测器在审
| 申请号： | 201980093744.3 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN113544546A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;G01T1/16;G01N23/046;G01N23/083 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种半导体X射线检测器(100)，其包括：X射线吸收层(110)，其包括电极、电子器件层(120)和密封所述X射线吸收层(110)与所述电子器件层(120)之间的电连接(131)之间的空间的壁(130)。所述电子器件层(120)包括：第一电压比较器和第二电压比较器(301，302)，其被配置为将电极的电压分别与第一阈值和第二阈值(V1，V2)进行比较；计数器(320)，其被配置为记录所述X射线吸收层(110)所吸收的X射线光子的数目；控制器(310)，其被配置为：从所述电压的绝对值等于或超过所述第一阈值(V1)的绝对值的时间开始时间延迟(TD1，TD2)；在所述时间延迟(TD1，TD2)期间启动所述第二电压比较器(302)；如果在所述时间延迟(TD1，TD2)期间所述电压的绝对值等于或超过所述第二阈值(V2)的绝对值，则使所述计数器(320)记录的所述数目增加一。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 射线 检测器 | ||
【主权项】：
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