[发明专利]存储器装置和用于监测存储器装置的性能的方法在审
申请号: | 201980096790.9 | 申请日: | 2019-05-31 |
公开(公告)号: | CN114303200A | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | A·特罗亚;A·蒙代洛 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G11C29/16 | 分类号: | G11C29/16;G11C16/34;G11C29/02;G11C29/04 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及用于检查非易失性存储器装置的读取阶段的方法,所述非易失性存储器装置包含至少一存储器单元阵列并且具有相关联的解码和感测电路系统和存储器控制器,所述方法包括:将至少内部块变量和已知模式存储于与存储器块相关联的虚设行中;执行所述虚设行的读取;将所述读取的结果与所述已知模式进行比较;基于所述比较的所述结果修整所述读取的参数和/或调换所使用的存储器块。 | ||
搜索关键词: | 存储器 装置 用于 监测 性能 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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