[发明专利]具有安全测试模式入口的存储器装置在审

专利信息
申请号: 201980096923.2 申请日: 2019-05-31
公开(公告)号: CN113906421A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 阿尔贝托·特罗亚;A·蒙代洛 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G06F21/31 分类号: G06F21/31;G06F21/74;G06F21/76;G06F21/72;G01R31/317
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及一种存储器装置,其包括:存储器单元阵列,以及访问管理架构,提供对所述存储器单元阵列的测试模式的安全访问,所述访问管理架构包括:寄存器组,包括识别所述存储器装置的数据;计算内部签名的加密算法,所述内部签名具有确保数据新鲜度的机制;非易失性存储区,存储用于由所述加密算法来计算所述内部签名的特定数据;以及比较块,用于将所述计算的内部签名与用户提供的签名进行比较以生成允许访问所述存储器单元阵列的测试模式的允许信号。本公开还涉及包括存储器装置的片上系统(SoC)组件以及用于管理对存储器阵列的访问进入测试模式的方法。
搜索关键词: 具有 安全 测试 模式 入口 存储器 装置
【主权项】:
暂无信息
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