[发明专利]测量装置以及测量方法在审
| 申请号： | 201980097689.5 | 申请日： | 2019-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN114008406A | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木勇贵;中村贤司;水野航 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 向勇;宋晓宝 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量装置(100)，用于测量测量对象物的形状，该测量装置(100)具有：光源部(20)；受光部(30)；以及主体部(10)，包括：透光部(70)，射出线状光；投光光路(51)，其为从光源部(20)到透光部(70)的光路；以及受光光路(52)，其为从透光部(70)到受光部(30)的光路。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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