[发明专利]半导体结构、三维存储器及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010000511.9 申请日: 2020-01-02
公开(公告)号: CN111162083B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 孙中旺;苏睿;周文犀;夏志良 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11531;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11575;H01L27/11582
代理公司: 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 代理人: 陈敏
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种半导体结构、三维存储器及各自的制备方法,半导体结构的制备方法包括:提供半导体衬底,于半导体衬底上形成叠层结构,叠层结构包括沿X方向划分的存储区及连接区,连接区至少包括第一连接分区及第二连接分区,对第一连接分区的叠层结构进行预设层级数的预设刻蚀,再对第一连接分区剩余的叠层结构进行同步刻蚀,对第二连接分区的叠层结构进行同步刻蚀,得到待形成台阶。本法发明采用预设刻蚀(chop)以及同步刻蚀(trim and etch)相结合的工艺,降低了器件制备的工艺难度减少了掩膜版数量,结合X方向及Y方向的刻蚀实现了需要台阶的制备,切断了Y方向上阶梯的连续性,改善了材料的应力和膨胀,提高了器件的稳定性。
搜索关键词: 半导体 结构 三维 存储器 制备 方法
【主权项】:
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