[发明专利]半导体结构、三维存储器及制备方法有效
申请号: | 202010000511.9 | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN111162083B | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 孙中旺;苏睿;周文犀;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11531;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11575;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 陈敏 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体结构、三维存储器及各自的制备方法,半导体结构的制备方法包括:提供半导体衬底,于半导体衬底上形成叠层结构,叠层结构包括沿X方向划分的存储区及连接区,连接区至少包括第一连接分区及第二连接分区,对第一连接分区的叠层结构进行预设层级数的预设刻蚀,再对第一连接分区剩余的叠层结构进行同步刻蚀,对第二连接分区的叠层结构进行同步刻蚀,得到待形成台阶。本法发明采用预设刻蚀(chop)以及同步刻蚀(trim and etch)相结合的工艺,降低了器件制备的工艺难度减少了掩膜版数量,结合X方向及Y方向的刻蚀实现了需要台阶的制备,切断了Y方向上阶梯的连续性,改善了材料的应力和膨胀,提高了器件的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 三维 存储器 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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