[发明专利]散射参数的测量方法和滤波器结构在审
| 申请号： | 202010012756.3 | 申请日： | 2020-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN111175580A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 邱显洪;蔡文必;周怀生 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 邓超 |
| 地址： | 361100 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种散射参数的测量方法和滤波器结构，该测量方法通过设置连接至待测滤波器的接地端的外围电路，以在外围电路上形成接地端对应的等效接地电位。并通过连接至待测滤波器的信号端以及外围电路上的等效接地电位的测量探针，采集待测滤波器的散射参数。该测量方案通过结合外围电路以及测量探针进行参数测量，避免引入其他的设备参数而对滤波器参数测量带来的影响，提高了测量获得的滤波器散射参数的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 参数 测量方法 滤波器 结构 | ||
【主权项】：
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