[发明专利]一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备有效
申请号: | 202010020753.4 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN110830795B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 余梦露;洪志坤;郑增强 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N5/367 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 方可 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,涉及数字图像处理技术领域;该检测方法包括:获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素;本发明通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,大大提高了坏点检测的准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 检测 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010020753.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种车道偏移检测装置及纠偏判定方法
- 下一篇:一种摄像模组光心检测方法