[发明专利]检查装置和检查方法在审
| 申请号： | 202010025454.X | 申请日： | 2020-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111435118A | 公开（公告）日： | 2020-07-21 |
| 发明（设计）人： | 小野健太郎;山本泰秀;森永国仁;木本智幸 | 申请（专利权）人： | 日商登肯股份有限公司;独立行政法人国立高等专门学校机构 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 朱丽娟;崔成哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供检查装置和检查方法，减少了将满足预先确定的标准的合格品误判定为不合格品的可能性。检查装置具有：摄像部，该摄像部拍摄被检查对象物；图像处理部，该图像处理部对由摄像部获得的被检查对象物的摄像数据进行处理，生成处理图像数据，该检查装置具有：第1判定部，其根据处理图像数据、和预先规定的空洞和伤痕的数据，判定被检查对象物是否存在缺陷；以及第2判定部，其根据处理图像数据和预先构建的机器学习模型，判定被检查对象物是否存在空洞和伤痕，第1判定部针对由第2判定部判定为存在空洞、为不合格品的被检查对象物判定是否存在该空洞，第1判定部针对由第2判定部判定为存在伤痕、为不合格品的被检查对象物判定是否存在该伤痕。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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