[发明专利]基于曲率传感技术的X射线单次曝光成像装置及方法在审
| 申请号： | 202010026096.4 | 申请日： | 2020-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111189859A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 张军勇;张秀平;张艳丽;周申蕾;朱健强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于曲率传感技术的X射线单次曝光成像装置及方法，包括X射线源、扩束器、第一三维平移台、被测物体、聚焦透镜Ⅰ、三焦点聚焦透镜、聚焦透镜Ⅱ、第二三维平移台、探测器和计算机，本发明可用于X射线波段的成像；成像装置简洁易操作，对X射线源相干性要求低，只需记录单幅强度图，可以避免多次操作提高成像装置的鲁棒性；成像方法可实时快速地实现被测物体复振幅图像的准确再现，特别适用于生物样品和动态物体的成像和检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 曲率 传感 技术 射线 曝光 成像 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010026096.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
