[发明专利]芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 202010026866.5 | 申请日： | 2020-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111190093A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 胡信伟 | 申请（专利权）人： | 上海知白智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 程佩玉 |
| 地址： | 200333 上海市普*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了芯片测试方法及芯片测试装置，方法包括：根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；还包括：由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。本发明能提高芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海知白智能科技有限公司，未经上海知白智能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010026866.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
