[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010027032.6 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN111446244A 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 坂本俊介 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L27/082 分类号: H01L27/082
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够对导线接合区域的中心部的发热量进行抑制的半导体装置。半导体装置(100)在单元区域(101)内具有多个IGBT单元。发射极电极(10)是在多个IGBT单元导通时成为电流路径的表面电极,形成为将多个IGBT单元覆盖。导线(10a)与发射极电极(10)接合。至少在发射极电极(10)和导线(10a)接合的区域即导线接合区域(30)的中心部的下方形成有不进行双极动作的哑单元。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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