[发明专利]一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法有效
| 申请号： | 202010029588.9 | 申请日： | 2020-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111089925B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 邵学鹏;樊怡辰;卜文庭;龙开明;汤磊;刘雪梅;郝樊华;谢波 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06;G01N30/72 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;何勇盛 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法。本发明包括单铼带涂样、质谱测量和数据校正三个步骤，其采用正热电离质谱测量法，基于Ce |
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| 搜索关键词： | 一种 电离 质谱仪 测量 同位素 比值 方法 | ||
【主权项】：
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