[发明专利]一种用于结构光深度测量的全自动标定系统在审

专利信息
申请号: 202010034439.1 申请日: 2020-01-14
公开(公告)号: CN111207685A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 王国平;郭彦彬;刘迎宾;叶韶华 申请(专利权)人: 华中科技大学鄂州工业技术研究院;华中科技大学
主分类号: G01B11/22 分类号: G01B11/22;F16M11/04;F16M11/18
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 刘杰
地址: 436044 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及结构光技术领域,具体涉及一种用于结构光深度测量的全自动标定系统。该系统包括:标定架、标定板、激光器、摄像机、第一驱动机构和控制装置;标定板设置在标定架上;第一驱动机构固定于标定架内,激光器和摄像机由第一驱动机构驱动、沿设定方向移动,设定方向与标定板所在平面相交;控制装置分别与第一驱动机构、激光器和摄像机电性连接。通过第一驱动机构自动调整激光器和摄像机到标定板的距离,激光器向标定板发射激光,摄像头对标定板进行拍摄,获得标定图像,将标定图像传输至控制装置,以使控制装置进行空间运算,获得标定参数,能够在短时间内对多个距离进行标定,耗时短、精度高,提高了标定效率。
搜索关键词: 一种 用于 结构 深度 测量 全自动 标定 系统
【主权项】:
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