[发明专利]一种冗余分处的X射线镀层测厚仪在审
| 申请号： | 202010036274.1 | 申请日： | 2020-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN111189419A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 刘锡全 | 申请（专利权）人： | 刘锡全 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200051 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种冗余分处的X射线镀层测厚仪，其结构包括内侧腔、射线吸收片、底座、工作台、检测机、转换显示器、背输线、冗余分处装置，背输线设于转换显示器背部，内侧腔位于检测机内部，工作台顶部与射线吸收片相贴合，本发明能够通过单一单片机在常规状态下进行常规工作，而在出现超载工作时，能够通过拉控环套在受热时横向膨胀纵向收缩的结构特征，缩减对冗余分处片的距离限制，进而能够令其在对接条的辅助牵制下，实现与主片机完成组装，进而增强主片机的处理速率，并且在完成冗余处理后，能够实现主动分离，减小机器的消耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 冗余 射线 镀层 测厚仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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