[发明专利]具温控单元的测试装置及其应用的测试分类设备有效
| 申请号： | 202010036550.4 | 申请日： | 2020-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN113182198B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 周廷玮 | 申请（专利权）人： | 鸿劲精密股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 侯奇慧 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种具温控单元的测试装置及一种应用具温控单元的测试装置的测试分类设备，其中具温控单元的测试装置的温控单元以第一温度产生器预温第一批次的电子元件，并以第二温度产生器预温电路板，温控单元另于压接器设置第一感测器，以感测电子元件的表面温度，并以第二感测器感测电路板的温度，第一感测器及第二感测器将电子元件表面温度感测数据及电路板温度感测数据传输至一处理器，处理器将电子元件表面温度感测数据及电路板温度感测数据与数据库作分析，即可获知电子元件的内部温度是否到达预设测试温度，以便迅速进行第一批次的电子元件测试作业，以有效提升第一批次电子元件的测试准确性及测试产能。 | ||
| 搜索关键词： | 温控 单元 测试 装置 及其 应用 分类 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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