[发明专利]元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010045849.6 | 申请日： | 2020-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN111274687A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 胡湘洪;于迪;聂国健;杨云;李欣荣 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F30/17;G06F119/02;G06F119/14 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 张彬彬 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。所述元器件失效率预计方法在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的预计步骤，使得所述待测试元器件组的失效率更加符合所述待测试元器件组的实际使用情况。解决了传统数理统计预计模型失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，达到了达到减小所述预计失效率与实际失效率预计偏差的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 失效 预计 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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