[发明专利]一种测量材料超导特性的谐振频率电路结构

摘要

本发明公开了一种测量材料超导特性的谐振频率电路结构，包括金属线圈、第一可调电容C1、第二可调电容C2、第三可调电容C3，待测材料放置在所述金属线圈中，金属线圈与第一可调电容C1、第二可调电容C2串联，串联之后再与第三可调电容C3并联，其中第一可调电容C1和第二可调电容C2用于调节整个电路的谐振频率，第三可调电容C3用于匹配电路的谐振频率并获得高谐振品质因子，电路的两端利用射频同轴电缆连接至网络分析仪的反射端口上，通过所述网络分析仪测量整个电路的谐振频率。本发明对样品尺寸大小的要求灵活，对于极小的单晶样品，根据需要可以按照一致的晶轴方向将其拼接成大块样品；本发明的实验测量操作简便、快捷，灵敏度高。