[发明专利]柔性基底上低温沉积光学性能可调氮化硅的方法在审

专利信息
申请号: 202010051521.5 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111218665A 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 陈昌;刘博;豆传国;崔虎山;徐开东 申请(专利权)人: 上海新微技术研发中心有限公司;江苏鲁汶仪器有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/50;C23C16/455;C23C16/02
代理公司: 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 代理人: 黄少波
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种柔性基底上低温沉积光学性能可调氮化硅的方法,包括提供衬底,并在所述衬底上形成柔性基底;通过电感耦合等离子体化学气相沉积法在所述柔性基底上沉积光学可调的氮化硅薄膜,其中沉积温度为25‑150℃,并通入反应载气,所述反应载气包括硅气源和氮气源,所述氮气源和所述硅气源流量比为0.5‑16,所述氮化硅薄膜厚度为30nm‑1000nm;采用物理机械或化学方法将所述柔性基底从所述衬底上剥离;具有有益效果:在柔性基底上低温沉积光学性能可调的氮化硅薄膜,不会软化或熔融柔性基底,通过调整的氮气源和硅气源流量比获得不同折射率的氮化硅薄膜,可应用于可见光波段低损耗波导,扩展以氮化硅为光学器件材料应用的范围和形式。
搜索关键词: 柔性 基底 低温 沉积 光学 性能 可调 氮化 方法
【主权项】:
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