[发明专利]基于LabVIEW的I-V自适应测量装置及测试方法在审
申请号: | 202010052338.7 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN111352013A | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 林忠海;陈宏;高菲;李晓林;雷嘉懿;魏广芬;李美花;刘燕丽;何爱香 | 申请(专利权)人: | 山东工商学院 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 青岛发思特专利商标代理有限公司 37212 | 代理人: | 董宝锞 |
地址: | 264000 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于LabVIEW的I‑V自适应测量装置及测试方法,其属于元器件I‑V曲线检测技术领域。包括待测组件、激励模块、I‑V测试模块和上位机,I‑V测试模块通过GPIB、RS232、RS485、USB等接口连接上位机内的数据处理单元,所述激励模块连接待测组件,待测组件通过总开关S连接I‑V测试模块,所述激励模块还连接上位机内可调节激励信号大小和步长的激励控制单元。本发明的有益效果是:采用计算机与LabVIEW软件相结合,硬件局限性较小,内存资源、运算速度提高。根据待测组件电流大小确定激励信号大小,有利于保护待测组件。采用高精度数字源表以及多种方法进行降噪去干扰处理,使测试结果更加准确。 | ||
搜索关键词: | 基于 labview 自适应 测量 装置 测试 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东工商学院,未经山东工商学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010052338.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。