[发明专利]一种超导光学探测器光学谐振腔在审
申请号: | 202010061368.4 | 申请日: | 2020-01-19 |
公开(公告)号: | CN111261769A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 王雪深;钟青;李劲劲;陈建;王仕建;钟源;徐骁龙 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | H01L39/10 | 分类号: | H01L39/10;H01L39/16;G01J11/00 |
代理公司: | 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) 32299 | 代理人: | 马刚强 |
地址: | 100020 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及一种超导光学探测器光学谐振腔,从一端到另一端分别为:基底层、全反射层、二氧化硅层、吸收层和氮化硅层,本申请的超导光学探测器光学谐振腔具有结构简单,每层结构较容易实现的优点。同时,在合理布置各层材料,厚度的情况下,能够得到反射率降低到3%以下。 | ||
搜索关键词: | 一种 超导 光学 探测器 谐振腔 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010061368.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。