[发明专利]一种FPGA芯片、基于其发射机的性能测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010061965.7 申请日: 2020-01-19
公开(公告)号: CN111162849B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 王飞;邓红梅;赵峰;胡金龙;石晶林 申请(专利权)人: 中科南京移动通信与计算创新研究院
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;G05B19/042
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 景鹏;何爽
地址: 211135 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种数字发射机的性能测试方法,其中该方法包括通过上位机生成的控制信令对FPGA芯片和待测发射机进行参数配置;将FPGA芯片生成的多个频率不同的正弦波信号加和,并且对加和后的数据进行截位;将截位后的数据进行功率调节;将功率调节后的数据进行跨时钟域处理;将跨时钟域处理后的数据进行数模转换;以及将待测发射机中数模转换后的模拟信号进行增益控制并且输出到频谱仪。本发明还公开了一种数字发射机的性能测试系统。该数字发射机的性能测试系统及其测试方法能够实现多载波数目可调节、载波频点可配置以及增益控制可改变的特性。
搜索关键词: 一种 fpga 芯片 基于 发射机 性能 测试 方法 系统
【主权项】:
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