[发明专利]用于进行测量的测量系统、测量装置及方法在审
| 申请号： | 202010064135.X | 申请日： | 2020-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN111579885A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·帕布斯特 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 王小衡;胡彬 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于对被测设备的总辐射功率进行测量的测量系统(14)具有消声室(18)，具有用于支撑被测设备(12)的设备部件(30)的定位器(20)，用于与所述被测设备(12)建立通信的至少一个链路天线(22)以及多个不同的测量天线(24)。所述测量天线(24)设置在所述消声室(18)中并且被设计为实施总辐射功率测量。此外，示出了一种用于对DUT(12)的总辐射功率进行测量的测量装置(10)及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 进行 测量 系统 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司，未经罗德施瓦兹两合股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010064135.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
