[发明专利]一种碲化锌镉晶体的检测方法在审
申请号: | 202010065066.4 | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111157547A | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 殷实;尹朝晖;尹朝蓉 | 申请(专利权)人: | 成都闰德芯传感器技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00;G01T7/00 |
代理公司: | 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 | 代理人: | 谢毅 |
地址: | 610041 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开一种碲化锌镉晶体的检测方法,其测量出碲化锌镉晶体导通电流随偏执电压增加的曲线,将所述曲线的拐点对应的偏执电压Ve运用公式μτ=d2/Ve,其中,d为碲化锌镉晶体的厚度,μτ为电子迁移率寿命积。简化了测量碲化锌镉晶体的电子迁移率寿命积的测量方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 碲化锌镉 晶体 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都闰德芯传感器技术有限公司,未经成都闰德芯传感器技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010065066.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。