[发明专利]一种疮伤测量系统以及一种疮伤测量方法在审
| 申请号： | 202010065320.0 | 申请日： | 2020-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN111297363A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 夏金萍;许彩云;孙红玲;沈成;金朝汇;谌明;金佳燕 | 申请（专利权）人： | 浙江同花顺智能科技有限公司;浙江大学 |
| 主分类号： | A61B5/107 | 分类号： | A61B5/107 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王云晓 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种疮伤测量系统，包括激光发射装置、摄像头以及处理器；激光发射装置，用于向目标疮伤口发射覆盖目标疮伤口的激光；摄像头连接处理器，摄像头，用于接收从目标疮伤口反射的激光以生成激光信号并将激光信号传输至处理器；获取目标疮伤口的疮伤口图像并将疮伤口图像发送至处理器；处理器，用于根据激光信号计算出目标疮伤口的距离参数；调用预先存储的深度学习模型，根据疮伤口图像生成目标疮伤口的图像参数；根据图像参数和距离参数计算目标疮伤口的体积参数。整个测量以及计算过程不需要通过医护人员手动测量，可以方便准确的测量疮伤口体积。本发明还提供了一种疮伤测量方法，同样具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 系统 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江同花顺智能科技有限公司;浙江大学，未经浙江同花顺智能科技有限公司;浙江大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010065320.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：从源头到末端的降氟方法及装置
- 下一篇：一种负载监控方法及系统
