[发明专利]一种用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法有效
| 申请号： | 202010071311.2 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN111221031B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 王昆仑;张思群;周少彤 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01T1/24 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 熊曦 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量Si‑PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法，所述准直器包括：AB两个部件，A部件位于射线源预设范围内，用于对光源发光区域进行限制；B部件用在探测器段，用于对射线进行准直和限光，并屏蔽其它方向的干扰射线；A部件为带有一个第一通光孔的金属板；B部件为带有N个准直管安装孔和N个探测器小腔的金属块，准直管安装孔与探测器小腔一一对应，准直管安装孔与其对应的探测器小腔连通，贯穿整个金属块，且准直管安装孔位于金属块的一面，探测器小腔贯穿到金属块的对面，本发明能够定量测量Si‑PIN探测器对硬X射线/伽玛射线响应的有效面积，从而使得Si‑PIN探测器在校准后能够用于硬X射线/伽玛射线定量测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 si pin 探测器 有效面积 准直器 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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