[发明专利]一种X射线荧光光谱分析铁合金用样片制备方法在审
申请号: | 202010072361.2 | 申请日: | 2020-01-21 |
公开(公告)号: | CN111141774A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 王丽晖;张道光;赵立章;车冲 | 申请(专利权)人: | 鞍钢股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/2202 | 分类号: | G01N23/2202;G01N23/223 |
代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙) 21224 | 代理人: | 周长星 |
地址: | 114000 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及一种X射线荧光光谱分析铁合金用样片制备方法,1)试样处理:铁合金试样研磨到0.074mm以下,干燥;2)称量0.1000‑0.2000g试样于铂金坩埚中,加水润湿,加入5‑10ml硝酸(1+1),缓慢滴加氢氟酸至试样完全溶解;3)加入3.000‑5.000g四硼酸锂于铂金坩埚内在40‑50℃加热烘干;4)试样放入熔融炉内,加入饱和硝酸钾溶液0.5‑1ml,加入分析纯溴化锂0.1000‑0.1500g,升温750‑800℃预热10‑15min,继续升温1100‑1150℃熔融,熔融10‑15min,升温熔融过程不断摇摆试样;5)熔融试样倒入铂金坩埚模具内冷却成型,制成玻璃片。本发明提高铌铁的检测速度,准确度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 荧光 光谱分析 铁合金 样片 制备 方法 | ||
【主权项】:
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