[发明专利]可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202010074299.0 | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN111162974A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 宋志坚;潘雷;张彬;刘辉;丁辉 | 申请（专利权）人： | 卡斯柯信号有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04L12/24 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 应小波 |
| 地址： | 200070 上海市静安区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法，所述的系统包括上位机、交换机以及待测试的二取二硬件平台，所述的上位机通过交换机分别与各待测试的二取二硬件平台连接；所述的上位机设有待测平台的板卡配置模块，用于对各待测平台的板卡进行测试前的配置。与现有技术相比，本发明具有高效节能，提高产量，有效防止误操作，降低操作人员的培训成本等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 配置 二取二 硬件 平台 老化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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