[发明专利]X射线检查装置在审
申请号: | 202010075639.1 | 申请日: | 2020-01-22 |
公开(公告)号: | CN111505027A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 西村弘;近藤慎吾;西上要;牧野伸哉;小林航太郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社石田 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请公开了一种易于清洁作业,清洁作业时水不易流入装置的内部的X射线检查装置。X射线检查装置(100)具备X射线照射器、冷却器(70)、冷却器罩(80)以及开闭部件(90)。冷却器(70)冷却X射线照射器。冷却器罩(80)覆盖冷却器(70)。冷却器罩(80)形成有连通内外的开口(82、84)。开闭部件(90)开闭形成于冷却器罩(80)的开口(82、84)。 | ||
搜索关键词: | 射线 检查 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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