[发明专利]受光装置以及测距系统在审
| 申请号： | 202010075713.X | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN111739899A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 佃恭范 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | H01L27/144 | 分类号： | H01L27/144;H01L31/0232;H01L31/12;G01S17/08;G01S17/931;G01S7/4863;G01S7/4914 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种受光装置以及测距系统，能够以参照用的像素可靠地受光。受光装置包括多个像素，多个像素具有：受光元件，具有受光面；以及发光源，相对于受光元件设置在与受光面相反的一侧。多个像素包括：第一像素，具有设置在受光元件和发光源之间的遮光部件；以及第二像素，在受光元件和发光源之间具有传播光子的导光部。本技术例如能够适用于检测到被摄体的深度方向上的距离的测距系统等。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 以及 测距 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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