[发明专利]一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法有效
| 申请号： | 202010089521.4 | 申请日： | 2020-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN111103245B | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 王延仓;李会民;李旭青;杨秀峰;金永涛;耿一峰;邓钦午;李一鸣;苏晓彤 | 申请（专利权）人： | 北华航天工业学院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/552 |
| 代理公司： | 郑州智多谋知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41170 | 代理人： | 李记辉 |
| 地址： | 065000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法及方法，所述方法包括以下步骤：准备霉变玉米和未霉变玉米；利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据，并进行特征分析；根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数；统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围，并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值；基于所述霉变与未霉变玉米分界值，判断待测玉米是否霉变。本发明提供的基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法，方法简单，操作方便，可实现快速、无损、实时玉米霉变的检测，为提高玉米存储质量提供基础技术支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 技术 玉米 霉变 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
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