[发明专利]基于点云信息的缺陷检测方法有效
申请号: | 202010093446.9 | 申请日: | 2020-02-14 |
公开(公告)号: | CN111311576B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 郭寅;尹仕斌;孙博;郭磊;刘方明 | 申请(专利权)人: | 易思维(杭州)科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于点云信息的缺陷检测方法,包括:对被测物表面的点云数据进行数据处理,获取各点的法向量及主曲率;根据点云数据坐标的所在位置,将点云数据分割成n块局部点云;计算其中一块局部点云的特征数;根据特征数标记缺陷点或正常点;重复,直到遍历完所有点云数据;根据各点被标记的类型,得出被测物表面是否存在缺陷及缺陷存在的位置;本方法将点云数据分割提高缺陷检测的精确度;设计多次分割,对缺陷点重复筛查,有效防止误检;适用于排查产品表面是否存在鼓包、凹坑等形变类缺陷,并能进行实时缺陷定位。 | ||
搜索关键词: | 基于 信息 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于易思维(杭州)科技有限公司,未经易思维(杭州)科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010093446.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端,信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置