[发明专利]非接触姿态测量系统有效
| 申请号： | 202010093758.X | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN111238440B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杨君;徐唐进;习先强;孙化龙 | 申请（专利权）人： | 天津时空经纬测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01B11/27;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 刘冀 |
| 地址： | 300380 天津市西青区中*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种非接触姿态测量系统和姿态信息采集设备。其中，非接触姿态测量系统包括第一光学准直装置、第一姿态测量装置以及处理器装置。第一光学准直装置用于检测与被测物的第一测量面之间的对准状态，其中在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，第一光学准直装置的轴线与第一测量面的法线平行。第一姿态测量装置与第一光学准直装置连接，用于测量与第一光学准直装置的姿态相关的第一测量信息。处理器装置，与第一光学准直装置以及第一姿态测量装置通信连接，并且配置用于：在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，根据从第一姿态测量装置接收的第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 姿态 测量 系统 | ||
【主权项】：
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