[发明专利]纳米结构体阵列、氢检测用元件及氢检测装置在审
| 申请号： | 202010097888.0 | 申请日： | 2020-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN111595825A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 西岛喜明;冈崎慎司;红贵朗;山作直贵;岩井武 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人横浜国立大学;东京应化工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 杨宏军;焦成美 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及纳米结构体阵列、氢检测用元件及氢检测装置。纳米结构体阵列，其具备基体、和形成于该基体上的纳米结构体，且所述纳米结构体阵列排列有多个上述纳米结构体，上述纳米结构体由存在表面等离振子、且具有吸藏及释放氢的性质的金属形成，上述基体由与氢反应而从导体可逆地向电介质变化的氢响应性材料形成，通过入射至上述纳米结构体的光而发生表面等离振子共振。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 结构 阵列 检测 元件 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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