[发明专利]一种提取微波介质基板宽带连续介电特性的表征方法有效
| 申请号： | 202010099357.5 | 申请日： | 2020-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN111308221B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡龙珠;洪伟;蒋之浩;黄岩 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G06F17/11 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211102 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提取微波介质基板宽带连续介电特性的表征方法，该方法结构简单，仅由两条不同长度直线构成的微波结构组成测试装置，通过比较两条直接结构的传输散射参数的相位和幅度，能够分别实现介质基板的介电常数和介质损耗正切值的推导。该方法同时考虑了结构的导体损耗和辐射损耗，能够高精度地反演介质损耗正切值。本发明相比于现有技术，如波级联矩阵算法，更为简单。该方法不仅适用于不接地共面波导结构，对于微带线、带状线、基片集成波导等结构也同样适用。该方法可以在一定程度上缓解由于微波连接器焊接和器件制造引起的误差，得到准确且连续的宽频带介质基板介电特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提取 微波 介质 宽带 连续 特性 表征 方法 | ||
【主权项】：
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