[发明专利]一种激光后向反射器阵列相位精密调整机构及其检测、调整方法有效

专利信息
申请号: 202010100378.4 申请日: 2020-02-18
公开(公告)号: CN111258079B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 余焘;李新阳;李枫;耿超 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B27/42 分类号: G02B27/42;G02B7/182;G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种激光后向反射器阵列相位精密调整机构及其检测、调整方法,该激光后向反射器阵列相位精密调整机构,包括反射器单元、阵列体、驱动机构;所述反射器单元用于安装单个激光后向反射器,所述阵列体用于组合多个反射器单元,所述驱动机构用于驱动单个反射器单元的位移。该检测、调整方法包括:利用沿直线依次设置的激光光源、分光镜、透镜、激光后向反射器阵列相位精密调整机构,分光镜反射光路设置的光探测器,检测反射光束远场光斑图像,对反射器单元进行调整。本发明实现了激光后向反射器阵列活塞相位误差的矫正,提高了激光后向反射器阵列反射光束远场衍射峰值能量,扩展了激光后向反射器阵列使用场景。
搜索关键词: 一种 激光 反射 阵列 相位 精密 调整 机构 及其 检测 方法
【主权项】:
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