[发明专利]基于神经网络的电子设备物理状况评估及相关系统和方法在审
| 申请号： | 202010100703.7 | 申请日： | 2020-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN111738402A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 约翰·席尔瓦 | 申请（专利权）人： | 埃科亚特姆公司 |
| 主分类号： | G06N3/04 | 分类号： | G06N3/04;G06N3/063;G06N3/08;G06T7/00;G06T7/90 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 邬玥;方挺 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开了使用机器学习技术来评估电子设备的物理和/或外观状况的系统和方法。在一个示例方面中，示例性系统包括自助服务终端，该自助服务终端包括被配置成保持电子设备的检测板，布置在所述检测板上方的被配置成将一个或多个光束指向所述电子设备的一个或多个光源，以及被配置成捕获所述电子设备的第一侧的至少一个图像的一个或多个照相机。该系统还包括与一个或多个照相机通信的被配置成提取所述电子设备的特征集合的一个或多个处理器，并且该一个或多个处理器经由第一神经网络基于所述特征集合确定所述电子设备的状况。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 神经网络 电子设备 物理 状况 评估 相关 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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