[发明专利]测定成功与否的判定方法及试样测定装置在审

专利信息
申请号: 202010104059.0 申请日: 2020-02-20
公开(公告)号: CN111879683A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 高桥佑介;柳田匡俊;白井健太郎;井尻悠一;岩永茂树 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10;G16B40/00
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 杨永波
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种即使在以试样中所含有的稀少的粒子为目标粒子的情况下,也能够判定是否正确地进行了试样的测定的测定成功与否的判定方法以及试样测定装置。测定试样所含有的目标粒子的测定的测定成功与否的判定方法包括检测工序(S1)、测定的成功与否的判定工序(S2)。测定成功与否的判定方法在检测工序(S1)中检测测定试样中的目标粒子和目标粒子以外的其他粒子。另外,测定成功与否的判定方法在测定的成功与否的判定工序(S2)中,至少基于其他粒子的检测结果判定目标粒子的测定的成功与否。
搜索关键词: 测定 成功 与否 判定 方法 试样 装置
【主权项】:
暂无信息
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