[发明专利]高集成型分析物检测系统在审
| 申请号： | 202010104112.7 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN112386251A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 杨翠军 | 申请（专利权）人： | 上海移宇科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/145 | 分类号： | A61B5/145 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 陈珊珊 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高集成型分析物检测系统，包括：底壳；探头结构，探头结构与底壳互相卡合，探头结构包括探头和探头基座，探头包括信号输出端和检测端，信号输出端向靠近探头基座的顶部表面的方向弯曲或弯折，信号输出端表面至少设置两个互相绝缘的第一电连接区；和发射器，发射器与底壳互相卡合，发射器设置有与第一电连接区相对应且互相绝缘的第二电连接区，每个第二电连接区与对应的第一电连接区电连接。内部紧凑的结构使检测系统体积更小，增强了用户体验。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 分析 检测 系统 | ||
【主权项】：
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